Titelaufnahme

Titel
Projekt: "Politur zirkonoxidverstärkter Lithiumsilikatkeramik vs. Lithiumdisilikatkeramik / eingereicht von Peter Nagl
VerfasserNagl, Peter
Begutachter / BegutachterinSchedle, Andreas
Erschienen2014
Umfang77 Bl. : Ill., graph. Darst.
HochschulschriftWien, Med. Univ., Dipl.-Arb., 2014
Anmerkung
Zusammenfassung in engl. Sprache
SpracheDeutsch
DokumenttypDiplomarbeit
Schlagwörter (DE)Celtra Duo / IPS e.max / Polierbarkeit / Poliersystem / Profilometrie / CAD/CAM / Keramik / zirkonoxid verstärkt / Lithiumdisilikat / Lithiumsilikat
Schlagwörter (EN)Celtra Duo / IPS e.max / effectiveness of polishing / polishing kit / profilometric / CAD/CAM / ceramics / lithium disilicate / lithium silicate / zirkonium-oxide-enhanced
URNurn:nbn:at:at-ubmuw:1-4740 Persistent Identifier (URN)
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Projekt: "Politur zirkonoxidverstärkter Lithiumsilikatkeramik vs. Lithiumdisilikatkeramik [1.5 mb]
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Zusammenfassung (Deutsch)

Ziel Das Ziel dieses Projektes war der Vergleich der Polierbarkeit einer zirkonoxidverstärkten Lithiumsilikatkeramik und einer Lithiumdisilikatkeramik mittels fünf verschiedener Poliersysteme. Der intraoralen Politur wird oft wenig Aufmerksamkeit geschenkt. Somit sollte abgeklärt werden, Unterschiede zwischen den Poliersystemen bezogen auf beide Keramiken bestehen.

Material und Methoden Es wurden 100 Probekeramikplättchen mittels CAD/CAM Verfahren hergestellt. 50 Proben der IPS e.max CAD-Keramik und 50 Proben der CELTRA DUO-Keramik wurden zu je 10 Stück auf folgende 5 Poliersysteme zufällig aufgeteilt: Exa Cerapol + Cerapol Super von Edenta, DiaPol von EVE, DiaCera von EVE, Komet 9545 und Komet 94013. Ausserdem wurde für die Endpolitur die DiaPaste Polierpaste von Shofu getestet. Poliert wurde standardisiert mittels eigens entwickelter Vorrichtung in einem Fräsgerät der Firma Degussa. Es wurden insgesamt drei Profilometriedurchgänge zu je zwei Messungen pro Keramikprobe durchgeführt. Dabei wurde jeweils der Ra-Wert und der Rz-Wert ermittelt.

Die Durchgänge erfolgten nach dem ersten Polierschritt (grobe Polierer), nach dem zweiten und bei 3-Schritt Polierer nach dem dritten Polierschritt (feine und extrafeine Polierer) sowie nach Verwendung der Polierpaste von Shofu. Zur qualitativen Analyse wurden Bilder mittels Elektronenmikroskop angefertigt.

Resultate Ra und Rz Werte spiegeln beide dasselbe Ergebnis wider.

So erreichte das Poliersystem von Edenta (Exa Cerapol + Cerapol Super) in Kombination mit der IPS e.max Keramik Rautiefen mit einem Ra Wert von Ra 0,177 und einem Rz Wert von 1,793. Danach reihten sich die Poliersysteme wie folgt: Komet 94013 mit Ra 0,190 und Rz 1,852, DiaCera von EVE mit Ra 0,267 und Rz 2,076, Komet 9545 mit Ra 0.272 und Rz 2,165 und DiaPol von EVE mit Ra 0,400 und Rz 2,907.

Die CELTRA DUO Keramik erreichte die niedrigsten Rauheitswerte in Kombination mit dem Exa Cerapol + Cerapol Super Poliersystem von Edenta mit Ra 0,165 und Rz 1,625. Danach reihten sich die Poliersysteme wie folgt: Komet 94013 mit Ra 0,213 und Rz 1,775, DiaCera von EVE mit Ra 0,397 und Rz 2,876, DiaPol von EVE mit Ra 0,458 und Rz 3,482 und Komet 9545 mit Ra 0,880 und Rz 6,225. IPS e. max erreichte insgesamt niedrigere Rautiefen als CELTRA DUO. Der niedrigste gemessene Wert wurde allerdings für die CELTRA DUO in Kombination mit der Exa Cerapol + Cerapol Super und der Polierpaste von Shofu erzielt.

Konklusion Es konnte in diesem Projekt aufgezeigt werden, dass sowohl ein Unterschied zwischen den beiden Keramiken in ihrer Polierbarkeit, als auch ein signifikanter Unterschied zwischen den einzelnen Poliersystemen besteht. Auch die Polierpaste von Shofu zeigte eine Verminderung der Rautiefen beider Keramiken im finalen Poliergang. Ausserdem wurde ein Zusammenhang der einzelnen Polierdurchgänge aufgezeigt.

Zusammenfassung (Englisch)

Purpose The purpose of this study was to evaluate the effectiveness of polishing processes of a zirconium-oxide enhanced lithium silicate ceramic compared to a lithium disilicate ceramic on the basis of five different polishing systems. Intraoral polishing often receives little attention.

Thus this study aims to measure the difference between five different polishing systems applied at two different ceramics.

Material and Methods 100 disc-shaped ceramic specimens were fabricated on the basis of CAD/CAM technology. 50 IPS e.max CAD-ceramic specimens and 50 CELTRA DUO-ceramic specimens were randomly split a par on each 10 discs among the following five polishing systems: Exa Cerapol + Cerapol Super by Edenta, DiaPol by EVE, DiaCera by EVE, Komet 9545 as well as Komet 94013, subsequently followed by final polishing with Shofu diamond polishing paste. A standardised polishing system has been developed by means of a specifically developed device that has been incorporated in a Degussa milling machine. Moreover, three profilometry readings with two samplings of each specimen were performed in order to determine the roughness values Ra and Rz of each specimen. The first reading was performed after the first polishing process (coarse polishing), the second reading after the second polishing process and in the case of 3-step-polishing systems after the third polishing process (fine and extra fine polishing) and the third reading was performed after the usage of diamond polishing paste (Shofu). The qualitative analysis of this study is based on the evaluation of images obtained through a scanning electron microscope (SEM).

Results The roughness values Ra and Rz obtained in this study provide almost identical results.

The Edenta polishing system (Exa Cerapol + Cerapol Super) obtained in combination with the IPS e.max ceramic Ra-values of 0,177 and Rz-values of 1,793, subsequently followed by Komet 94013 (Ra 0,190 and Rz 1,852), DiaCera by EVE (Ra 0,267 and Rz 2,076), Komet 9545 (Ra 0.272 and Rz 2,165) and DiaPol by EVE (Ra 0,400 and Rz 2,907).

CELTRA DUO ceramics obtained the smallest depth of roughness in combination with the Exa Cerapol + Cerapol Super polishing system by Edenta and diamond polishing paste by Shofu. The roughness values are Ra 0,165 and Rz 1,625, subsequently followed by Komet 94013 (Ra 0,213 and Rz 1,775), DiaCera by EVE (Ra 0,397 and Rz 2,876), DiaPol by EVE (Ra 0,458 and Rz 3,482) and Komet 9545 (Ra 0,880 and Rz 6,225). IPS e. max obtained a smoother surfaces than the specimens of CELTRA DUO, although CELTRA DUO ceramics showed the smoothest surface of all investigated specimens with the Edenta polishing system Conclusions The results of this study demonstrate that there is a difference in the effectiveness of polishing processes of both ceramics and a significant difference between the individual polishing systems. The usage of diamond polishing paste (Shofu) for the final polishing exhibits a significantly smoother surface of both ceramics, demonstrating a correlation between the individual polishing processes.